産業技術総合研究所ナノプロセシング施設(NPF) は、「光ナノ計測実践セミナーⅡ」を、2017年 5月30日(火)産業技術総合研究所ナノプロセシング施設にて開催いたします。超解像観察技術、共焦点技術、走査プローブ技術等を用いたナノスケールの計測・評価について講演していただく予定です。オーサーズ・インタビューの時間を設けましたので、講師の方々に個別に質問をすることが可能です。また、実習コースでは、NPFのレーザー顕微鏡や、走査プローブ顕微鏡(SPM)を 用いた観察技術について、基本的なスキルを身につけていただけるコースとなっています。
奮ってのご参加をお待ちしています。
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概要
| 開催日時 | 2017年 5月 30日(火) 12:55 ～ 17:20 |
|---|---|
| 場所 | 産業技術総合研究所つくば中央2-12棟第6会議室 |
| 主催 | 産業技術総合研究所ナノプロセシング施設(NPF) |
| 共催 | ナノエレクトロニクス計測分析技術研究会(TSC) |
| 参加費 | 無料 |
| 定員 | 90名（先着順、参加登録をお願いします） セミナー案内/申し込みはこちら |
| 講演プログラム |
12:55-13:00 「はじめに」 産総研 共用施設ステーション 多田哲也 13:00-13:50 「超解像光学顕微鏡をもちいた生物試料の数十nm精度での観察技術」 産総研 バイオメディカル研究部門 加藤 薫 13:50-14:20 「バイオイメージングにおける超解像顕微鏡の原理と応用」 (株)ニコン 今井 健太 14:20-14:40 「ナノプロセシング施設に於けるレーザー顕微鏡と走査プローブ顕微鏡」 産総研 ナノプロセシング施設 山崎将嗣 14:40-15:00 休憩（オーサーズインタビュー） 15:00-15:30 「レーザー顕微鏡及びAFMを用いた表面性状評価」 オリンパス(株) 牛丸 元春 15:30-16:00 「白色コンフォーカル顕微鏡を用いたナノ計測」 レーザーテック(株) 小堀 亮 16:00-16:30 「空間分可能10nmを可能にするAFM-IR赤外分光分析スペクトロ スコピーの現状」 (株)日本サーマルコンサルティング 浦山憲雄 16:30-17:00 「周波数変調AFMによる潤滑界面の顕微測定」 (株)島津製作所 粉川 良平 17:00-17:20 オーサーズインタビュー |
| 実習コース |
レーザー顕微鏡コース：日時：2017年5月31日(水) 定員：5名 短波長レーザー顕微鏡(OLS4100)を用いて、3次元測定、 液浸観察を含め、レーザー顕 微鏡のスキルを学んで頂きます。 走査プローブ顕微鏡コース：日時：2017年6月1日(木) 定員：4名 走査プローブ顕微鏡(SPM-9700)を用いて、SPM観察技術の 基礎を学んで頂きます。 |
| お問合せ先 |
国立研究開発法人 産業技術総合研究所 TIA推進センター 共用施設運営ユニット 共用施設ステーション ナノプロセシング施設 電子メールアドレス：tia-npf-school1(at)aist.go.jp ※(at)をアットマークに変更してからご使用ください |